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本发明提供了一种高速集成电路延迟时间测试系统及方法，属于集成电路的测试领域，测试系统包括：可编程延迟时间单元和高速数字触发电路；可编程延迟时间单元将高速集成电路传输的触发信号进行延迟；其中，可编程延迟时间单元的延迟时间根据高速集成电路标称最...
该专利属于中国船舶集团有限公司第七〇九研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国船舶集团有限公司第七〇九研究所授权不得商用。

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