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本发明提供了一种基于TaO<subgt;x</subgt;电子型忆阻器的温感算器件及阵列，属于微纳米电子器件领域，温感算器件包括由下而上依次叠设的第一金属层、功能层和第二金属层；第一金属层内金属材料的功函数高于第二金属层内金属材...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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