下载一种用于芯片的高温测试装置的技术资料

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本实用新型提供了一种用于芯片的高温测试装置,包括底座,其特征在于,所述底座上设置有旋转送料单元,所述底座上还安装有绝热安装环,所述绝热安装环上通过第一绝热支架安装有用于芯片加热的加热器,且加热器的热风出口朝下,所述绝热安装环上还安装有用于与...
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