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本发明涉及半导体集成电路装置的检查装置和检查方法。使用ｎ－１个模拟电压比较选择电路（５０１），从半导体集成电路装置（ＩＣ２）中所设置的ｎ个输出端子（５０３）分别输出的ｎ种模拟电压之中选择包含电压值最大的模拟电压或电压值最小的模拟电压在内的大...
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