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本发明属于超导电工学领域，特别涉及一种非接触式超导带材载流能力测量装置。本发明基于单磁路法的电流传输性能连续测量方法，探测磁路垂直固定在基座上，探测磁路的铁芯、样品狭缝、测量狭缝和励磁线圈构成闭合探测磁路。在液氮低温条件下，励磁线圈通电在样...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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