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本申请涉及半导体自动化测试领域，特别是涉及一种并行校准电路、自动测试设备及测试系统。并行校准电路包括：至少两路信号采集链路，分别与各校准通道组一一对应连接，用于并行采集校准通道组中任一校准通道的第一待测模拟信号，并转换为第一待测数字信号；控...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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