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量测装置和光刻装置制造方法及图纸
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文档序号:39846701
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公开了一种并行量测传感器系统,包括参考框架和多个集成光学器件传感器头,每个集成光学器件传感器头被配置为执行独立测量
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该专利属于ASML所有,仅供学习研究参考,未经过ASML授权不得商用。
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