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本发明公开了一种半导体加工用测试装置，涉及半导体技术领域，解决了半导体翻转检测过程中自动化程度较低，影响半导体检测效率的技术问题；包括：测试台和转动安装在测试台上的纵向输送辊
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该专利属于合肥玖福半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥玖福半导体技术有限公司授权不得商用。

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