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一种分析标示分析物离子的方法包括:碎裂标示分析物离子以产生分析物碎片离子和报告离子或互补离子;使用在第一操作模式下操作的飞行时间质量分析仪来分析这些分析物碎片离子;以及使用在第二操作模式下操作的该飞行时间质量分析仪来分析这些报告离子或这些互...该专利属于塞莫费雪科学(不来梅)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过塞莫费雪科学(不来梅)有限公司授权不得商用。
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