标示分析物分子的飞行时间质谱分析制造技术

一种分析标示分析物离子的方法包括：碎裂标示分析物离子以产生分析物碎片离子和报告离子或互补离子；使用在第一操作模式下操作的飞行时间质量分析仪来分析这些分析物碎片离子；以及使用在第二操作模式下操作的该飞行时间质量分析仪来分析这些报告离子或这些互补离子。在该第一操作模式下，致使离子沿具有第一长度的飞行路径行进，并且在该第二操作模式下，致使离子沿具有第二长度的飞行路径行进，其中该第二长度大于该第一长度。其中该第二长度大于该第一长度。其中该第二长度大于该第一长度。

【技术实现步骤摘要】
标示分析物分子的飞行时间质谱分析


[0001]本专利技术涉及分析离子的方法，并且具体地涉及使用飞行时间(ToF)质量分析仪分析标示分析物分子和/或离子的方法。

技术介绍

[0002]化学标记是用于分析物定量的长期工具，最简单的形式涉及将峰强度与标示已知浓度标准的峰强度进行比较。当多个不同化学标记(诸如多个同位素)可用于不同质量时，可将若干样品一起混合并且在单一高通量、多路复用工作流中分析它们。
[0003]该组内的一个重要应用是串联质量标记(TMT)方法(Thompson等人,分析化学(Anal.Chem.)，2003年，第75卷，第1895
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1904页)，销售为TMT或iTRAQ(相对定量同量异位标记)。这是一种串联方法，由此多路复用标记肽具有相同的m/z，因此通过液相色谱共洗脱，并且通过四极滤质器共分离。然而，在碎裂后，生成并检测具有不同m/z的特性1,2,6报告离子以进行定量。肽碎片的同时检测允许在同一步骤中进行肽识别。
[0004]据信，仍然存在改进分析标示分析物分子的方法的余地。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种分析标示分析物离子的方法，所述方法包括：碎裂标示分析物离子以产生分析物碎片离子和报告离子或互补离子；使用在第一操作模式下操作的飞行时间质量分析仪来分析所述分析物碎片离子，在所述第一操作模式下，致使离子沿具有第一长度的飞行路径行进；以及使用在第二操作模式下操作的所述飞行时间质量分析仪来分析所述报告离子或所述互补离子，在所述第二操作模式下，致使离子沿具有第二长度的飞行路径行进，其中所述第二长度大于所述第一长度。2.根据权利要求1所述的方法，其中：所述飞行时间质量分析仪包括一个或多个离子反射器；在所述第一操作模式下，致使离子在所述一个或多个离子反射器中进行n个反射，其中n是≥0的整数；并且在所述第二操作模式下，致使离子在所述一个或多个离子反射器中进行m个反射，其中m是>n的整数。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中所述飞行时间质量分析仪是多反射飞行时间(MR
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ToF)质量分析仪，所述MR
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ToF质量分析仪包括：两个离子镜，所述两个离子镜在第一方向X上间隔开并且彼此相对，每个镜通常在第一端部与第二端部之间沿漂移方向Y伸长，所述漂移方向Y与所述第一方向X正交；离子注入器，所述离子注入器用于将离子注入所述离子镜之间的空间中，所述离子注入器被定位为接近所述离子镜的所述第一端部；和检测器，所述检测器用于在离子已经在所述离子镜之间完成多个反射之后检测所述离子，所述检测器被定位为接近所述离子镜的所述第一端部；其中使用在所述第一操作模式下操作的所述分析仪来分析分析物碎片离子包括：将分析物碎片离子从所述离子注入器注入所述离子镜之间的所述空间中，其中所述离子沿循在所述方向X上在所述离子镜之间具有多个反射的Z字形离子路径，同时：(a)沿所述漂移方向Y朝向所述离子镜的所述第二端部漂移，(b)接近所述离子镜的所述第二端部反转漂移方向速度，以及(c)沿所述漂移方向Y往回漂移到所述离子镜的所述第一端部；以及然后致使所述离子行进到所述检测器以进行检测。4.根据权利要求3所述的方法，其中使用在所述第二操作模式下操作的所述分析仪来分析报告离子或互补离子包括：(i)将报告离子或互补离子从所述离子注入器注入所述离子镜之间的所述空间中，其中所述离子完成第一循环，在所述第一循环中，所述离子沿循在所述方向X上在所述离子镜之间具有多个反射的Z字形离子路径，同时：(a)沿所述漂移方向Y朝向所述离子镜的所述第二端部漂移，(b)接近所述离子镜的所述第二端部反转漂移方向速度，以及(c)沿所述漂移方向Y朝向所述离子镜的所述第一端部往回漂移；(ii)接近所述离子镜的所述第一端部反转所述离子的所述漂移方向速度，使得致使所述离子完成另外的循环，在所述另外的循环中，所述离子沿循在所述方向X上在所述离子镜之间具有多个反射的Z字形离子路径，同
时：(a)沿所述漂移方向Y朝向所述离子镜的所述第二端部漂移，(b)接近所述离子镜的所述第二端部反转漂移方向速度，以及(c)沿所述漂移方向Y朝向所述离子镜的所述第一端部往回漂移；(iii)任选地重复步骤(ii)一次或多次；以及然后(iv)致使所述离子行进到所述检测器以进行检测。5.根据权利要求3或4所述的方法，其中：所述多反射飞行时间(MR
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ToF)质量分析仪还包括被定位为接近所述离子镜的所述第一端部的偏转器或透镜；并且使用在所述第二操作模式下操作的所述分析仪来分析报告离子或互补离子包括：(i)将报告离子或互补离子从所述离子注入器注入所述离子镜之间的所述空间中，其中所述离子完成第一循环，在所述第一循环中，所述离子沿循在所述方向X上在所述离子镜之间具有多个反射的Z字形离子路径，同时：(a)沿所述漂移方向Y从所述偏转器或透镜朝向所述离子镜的所述第二端部漂移，(b)接近所述离子镜的所述第二端部反转漂移方向速度，以及(c)沿所述漂移方向Y往回漂移到所述偏转器或透镜；(ii)使用所述偏转器或透镜来反转所述离子的所述漂移方向速度，使得致使所述离子完成另外的循环，在所述另外的循环中，所述离子沿循在所述方向X上在所述离子镜之间具有多个反射的Z字形离子路径，同时：(a)从所述偏转器或透镜沿所述漂移方向Y朝向所述离子镜的所述第二端部漂移，(b)接近所述离子镜的所述第二端部反转漂移方向速度，以及(c)沿所述漂移方向Y往回漂移到所述偏转器或透镜；(iii)任选地重复步骤(ii)一次或多次；以及然后(iv)致使所述离子从所述偏转器或透镜行进到所述检测器以进行检测。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中分析所述分析物碎片离子的所述步骤包括分析一个或多个第一离子包，并且分析所述报告离子或所述互补离子的所述步骤包括分析不同的一个或多个第二离子包。7.根据权利要求6所述的方法，还包括：使用第一组一个或多个仪器参数来生成和/或处理和/或分析每个第一离子包，以及使用不同的第二组一个或多个仪器参数来生成和/或处理和/或分析每个第二离子包。8.根据权利要求6或7所述的方法，还包括：使用第一滤质器透射窗口宽度来生成每个第一离子包，以及使用不同的第二滤质器透射窗口宽度来生成每个第二离子包。9.根据权利要求6、7或8所述的方法，还包括：使用第一碰撞能量来生成每个第一离子包，以及使用不同的第二碰撞能量来生成每个第二离子包。10.根据权利要求1
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5中任一项所述的方法，其中分析所述分析物碎片离子和分析所述报告离子或所述互补离子的所述步骤包括分析一个或多个单个离子包。11.根据权利要求10所述的方法，其中所述分析仪包括：离子路径，所述离子路径包括循环段；离子注入器，所述离子注入器用于将离子注入所述离子路径中；至少一个离子反射器，所述至少一个离子反射器沿所述离子路径布置；和检测器，所述检测器布置在所述离子路径的端部处；
其中所述方法包括：(i)将包括分析物碎片离子和报告离子或互补离子的离子包从所述离子注入器注入所述离子路径中，使得所述分析物碎片离子和所述报告离子或所述互补离子沿所述离子路径行进到所述离子反射器；(ii)致使所述分析物碎片离子从所述离子反射器行进到所述检测器以进行检测；(iii)使用所述离子反射器来致使所述报告离子或所述互补离子沿所述离子路径的所述循环段完成一个或多个循环；以及然后(iv)致使所述报告离子或所述互补离子从所述离子反射器行进到所述检测器以进行检测。12.根据从属于权利要求5的权利要求10或11所述的方法，还包括：(i)将包括分析物碎片离子和报告离子或互补离子的离子包从所述离子注入器注入所述离子镜之间的所述空间中，其中所述离子完成第一循环，在所述第一循环中，所述离子沿循在所述方向X上在所述离子镜之间具有多个反射的Z字形离子路径，同时：(a)从所述偏转器或透镜沿所述漂移方向Y朝向所述离子镜的所述第二端部漂移，(b)接近所述离子镜的所述第二端部反转漂移方向速度，以及(c)沿所述漂移方向Y往回漂移到所述偏转器或透镜；(ii)致使所述分析物碎片离子从所述偏转器或透镜行进到所述检测器以进行检测；(ii)使用所述偏转器或透镜来反转所述报告离子或所述互补离子的所述漂移方向速度，使得致使这些离子完成另外的循环，在所述另外的循环中，这些离子沿循在所述方向X上在所述离子镜之间具有多个反射的Z字形离子路径，同时：(a)从所述偏转器或透镜沿所述漂移方向Y朝向所述离子镜的所述第二端部漂移，(b)接近所述离子镜的所述第二端部反转漂移方向速度，以及(c)沿所述漂移方向Y往回漂移到所述偏转器或透镜；(iv)任选地重复步骤(iii)一次或多次；以及然后(v)致使所述报告离子或所述互补离子从所述偏转器或透镜行进到所述检测器以进行检测。13.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：H，
申请(专利权)人：塞莫费雪科学不来梅有限公司，
类型：发明
国别省市：