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本发明公开了一种集成电路芯片高精度封装测试机台，涉及电路芯片封装测试机台技术领域，包括工作台和控制器，所述工作台的上侧分别设有第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨和第二滑轨的中间均设有第二避让槽，所述第一滑轨的后侧和第二滑轨的前侧均设有第二推杆...
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