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本发明提供一种半导体外延的实现方法，包括：在半导体器件的栅极形成之前，刻蚀半导体衬底形成阵列排布的半导体岛状结构，且各所述半导体岛状结构至少上部之间通过至少一处连接结构相互连接，以减少后续外延工艺产生的缺陷；其中，所述刻蚀半导体衬底形成阵列...
该专利属于格科微电子（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过格科微电子（上海）有限公司授权不得商用。

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