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本申请涉及半导体芯片测试领域，特别涉及一种可用于半导体芯片测试的高低温测试装置
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该专利属于山海芯半导体科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过山海芯半导体科技（上海）有限公司授权不得商用。

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