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本发明提供了一种芯片检测方法及系统，该方法包括：当获取到待检测芯片时，通过低倍镜头构建出与待检测芯片适配的检测模板以及检测区域，检测模板设于检测区域内；启用高倍镜头，并通过高倍镜头实时采集待检测芯片的高倍芯片图像；基于预设规则构建出低倍镜头...
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