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Ⅲ族氮化物半导体的制造方法技术
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文档序号:3956876
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一种制造III族氮化物半导体的方法,所述方法包括:制备包括缓冲层的衬底;在所述缓冲层上通过MOCVD由III族氮化物半导体在掺杂反表面活性剂的同时形成第一层,其中所述第一层的厚度等于或小于2μm;在所述第一层上通过MOCVD由III族氮化物...
该专利属于丰田合成株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过丰田合成株式会社授权不得商用。
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