下载一种可提高检测效率的芯片测试用治具的技术资料

文档序号:39451630

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本实用新型公开了一种可提高检测效率的芯片测试用治具,属于芯片测试用治具技术领域,解决了不便于使用的问题,其技术要点是:包括治具平台,治具平台上设置有用于对芯片进行固定的夹持机构,治具平台活动安装于承载台上,治具平台与承载台的连接处设置有角度...
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