一种可提高检测效率的芯片测试用治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可提高检测效率的芯片测试用治具，属于芯片测试用治具技术领域，解决了不便于使用的问题，其技术要点是：包括治具平台，治具平台上设置有用于对芯片进行固定的夹持机构，治具平台活动安装于承载台上，治具平台与承载台的连接处设置有角度微调机构，通过设置的夹持机构可实现对芯片四个方向上的夹持固定，通过设置的角度微调机构在齿条与不完全齿轮啮合连接的关系下驱使治具平台带动芯片进行微型角度的调节，并且转台内部设置的电机可带动芯片进行旋转角度的调节，底板底部设置的固定吸盘可保证该治具装置的稳定性，具有便于固定和使用的优点。具有便于固定和使用的优点。具有便于固定和使用的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种可提高检测效率的芯片测试用治具


[0001]本技术涉及芯片测试用治具领域，具体是涉及一种可提高检测效率的芯片测试用治具。

技术介绍

[0002]在对芯片样品进行失效分析时，由于芯片样品放置时与水平面存在一个夹角，导致在采集样品图片时会产生灰阶度不均匀以及部分图像模糊不清的情况。传统的方法是在芯片样品下方垫入一定量的胶质，以修正样品的内部夹角。
[0003]公开号为CN207742087U的中国专利文件，其具体公开了包括支撑板和支架，所述支撑板安装在所述支架上；所述支架包括螺纹微调器和支脚，所述螺纹微调器的一端与所述支撑板连接，所述螺纹微调器的另一端与所述支脚连接，所述支脚与所述支撑板垂直；所述螺纹微调器包括旋钮，所述旋钮往第一方向转动时，所述支撑板上升，所述旋钮往第二方向转动时，所述支撑板下降，所述第二方向与所述第一方向相反。
[0004]虽然该芯片测试治具可以实现对芯片的角度调节，但无法对芯片进行良好的固定，可能会造成芯片角度调节后，造成芯片的掉落，影响工作的效率，且存在该芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该芯片测试治具本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可提高检测效率的芯片测试用治具，包括治具平台(1)，其特征在于，所述治具平台(1)上设置有用于对芯片进行固定的夹持机构，所述治具平台(1)活动安装于承载台(14)上，所述治具平台(1)与承载台(14)的连接处设置有角度微调机构，所述承载台(14)的底部安装有转台(15)，所述转台(15)固定安装于底板(16)上。2.根据权利要求1所述的可提高检测效率的芯片测试用治具，其特征在于，所述夹持机构包括第一夹持板(2)和第二双向气缸(6)，所述第一夹持板(2)通过第一T型滑块(5)限位滑动连接于治具平台(1)上，所述第一T型滑块(5)固定连接有第二双向气缸(6)的活塞杆，所述第二双向气缸(6)固定安装于治具平台(1)的底部。3.根据权利要求2所述的可提高检测效率的芯片测试用治具，其特征在于，所述夹持机构还包括用于夹持芯片其他面的第二夹持板(3)，所述第二夹持板(3)通过第二T型滑块(18)限位滑动连接于第一夹持板(2)上，所述第二T型滑块(18)固定连接有第一双向气缸(4)的活塞杆，所述第一双向气缸(4)固定安装于第一夹持板(2)的侧面。4.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙帅伟，
申请(专利权)人：苏州格丽明电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：