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本实用新型提供一种芯片高低温测试柜台，涉及温度测试技术领域。本实用新型通过采用包括柜体，所述柜体顶部设置有测试平台，所述测试平台设有供芯片嵌入的通孔，所述测试平台内设置有对准通孔的高低温气流仪，所述测试平台放置有覆盖所述通孔的芯片安装板，所...
该专利属于芯洲科技(北京)股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯洲科技(北京)股份有限公司授权不得商用。

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