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本发明公开一种射频芯片测试系统和射频芯片测试方法，射频芯片测试系统中变频器的输出端与待测射频芯片的高速接收管脚连接，输入端与待测射频芯片的高速发射管脚连接，待测射频芯片的低速管脚与测试机台连接，测试机台生成测试指令输出到低速管脚，待测射频芯...
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