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本发明公开了用于基于通过波长色散X射线荧光光谱仪进行的测量来确定试验样本中的一种或多种元素的质量分数的系统、方法和计算机程序产品，该WDX光谱仪测量与该试验样本中具有待确定质量分数的相应元素相关联的总强度。质量分数模块通过使用校准公式以该相...
该专利属于布鲁克AXS公司所有，仅供学习研究参考，未经过布鲁克AXS公司授权不得商用。

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