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本发明涉及一种应用于太赫兹波段的可调谐电容器的制备与太赫兹波段电容的测试方法，太赫兹可调谐电容器以铁电薄膜为核心材料，太赫兹波段介电常数为
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该专利属于苏州科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏州科技大学授权不得商用。

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