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本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体的说是一种芯片测试悬臂式垂直可拆卸探针头，包括探针头主体和头型，探针头主体远离头型的一端设置有若干滑槽，所述滑槽内设置有卡块，所述滑槽靠近头型的一端设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有驱动结构，所述探针头...
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