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本实用新型涉及焊点检测技术领域,公开了一种芯片IO点的虚焊检测电路，包括恒流源单元、差分放大单元、第一比较单元、第二比较单元和发光二极管，恒流源单元包括基准电压产生单元和负载单元；在实际使用时，通过将本实用新型的差分放大单元的第一输入端和第...
该专利属于深存科技（无锡）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深存科技（无锡）有限公司授权不得商用。

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