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本发明提供了一种交叉线阳极、成像探测器以及交叉线阳极的制备方法，用于解决传统交叉线阳极存在的上层矩形导电条遮蔽下层矩形导电条、易产生极间电容串扰、电荷损失及制作难度和成本高的技术问题。本发明的交叉线阳极包括绝缘层、M
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该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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