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本发明涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及一种IC老化测试方法、装置、设备及存储介质，本发明通过根据待测试IC芯片的规格参数确定不同IC老化测试下对应的测试参数，以便于控制测试的工作量，同时通过多种老化测试模型对待测试IC芯片进行测试，提高了...
该专利属于深圳市研测科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市研测科技有限公司授权不得商用。

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