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本申请公开了一种众测缺陷处理方法及装置、电子设备、存储介质，所述方法包括：获取当前测试者提交的待处理缺陷的缺陷信息；将待处理缺陷与各个已处理缺陷进行缺陷信息对比，确定待处理缺陷属于新增类别缺陷或重复类别缺陷；若为新增类别缺陷，对待处理缺陷进...
该专利属于中国建设银行股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国建设银行股份有限公司授权不得商用。

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