一种众测缺陷处理方法及装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种众测缺陷处理方法及装置、电子设备、存储介质，所述方法包括：获取当前测试者提交的待处理缺陷的缺陷信息；将待处理缺陷与各个已处理缺陷进行缺陷信息对比，确定待处理缺陷属于新增类别缺陷或重复类别缺陷；若为新增类别缺陷，对待处理缺陷进行审核提示，并接收审核结果；若审核待处理缺陷有效，根据审核结果确定其的严重程度权重，并将其对应的重复次数设置为初始值；若为重复类别缺陷，确定待处理缺陷的严重程度权重为其相同缺陷的严重程度权重，并将其对应的重复次数设置为当前待处理缺陷的相同缺陷的数量与1的和；基于待处理缺陷的严重程度权重和对应的重复次数，计算得到其对应的奖励；向当前测试者发放对应的奖励。放对应的奖励。放对应的奖励。

【技术实现步骤摘要】
一种众测缺陷处理方法及装置、电子设备、存储介质


[0001]本申请涉及软件产品众测
，特别涉及一种众测缺陷处理方法及装置、电子设备、存储介质。

技术介绍

[0002]众测是一种全新的测试方式，其以软件产品的各个用户作为测试者，通过奖励的方式，鼓励个人用户积极参于到软件产品的测试中，即个人用户通过体验软件产品，并提出软件产品所存在的缺陷，则可以相应地获取到一定的奖励。
[0003]当前众测的奖励方式主要包括两种：一种是系统统计用户所提交的缺陷数量，并根据用户所提交的缺陷数据给予用户对应的奖励，即提交缺陷数量越多，则所获得的奖励越多。另一种则是由众测任务发起者人工审核用户提交的缺陷，并上传审核结果。若审核结果为用户提交的缺陷有效，并且不属于他人已经提交的缺陷时，则系统向用户分配相应的奖励。
[0004]但是，第一种方式无法识别重复缺陷，所以容易出现用户通过伪装身份重复提交缺陷或者恶意抄袭等手段，来获取高额的奖励，使得最终得到的有用的缺陷相对较少，从而影响众测的结果。第二种方式，虽然可以有效避免第一种方式存在的问题，但是人工审核本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种众测缺陷处理方法，其特征在于，包括：获取当前测试者提交的待处理缺陷的缺陷信息；通过将所述待处理缺陷的缺陷信息与各个已处理缺陷的缺陷信息进行对比，确定所述待处理缺陷属于新增类别缺陷或重复类别缺陷；若所述待处理缺陷属于新增类别缺陷，则对所述待处理缺陷进行审核提示，并接收所述待处理缺陷的审核结果；若所述待处理缺陷的审核结果指示所述待处理缺陷有效，则根据所述待处理缺陷的审核结果确定所述待处理缺陷的严重程度权重，并将所述待处理缺陷对应的重复次数设置为初始值；若所述待处理缺陷属于重复类别缺陷，则确定所述待处理缺陷的严重程度权重为所述已处理缺陷中所述待处理缺陷的相同缺陷的严重程度权重，并将所述待处理缺陷对应的重复次数设置为当前所述已处理缺陷中所述待处理缺陷的相同缺陷的数量与1的和；基于所述待处理缺陷的严重程度权重以及对应的重复次数，计算得到所述待处理缺陷对应的奖励；其中，所述待处理缺陷的严重程度权重越大，且对应的重复次数越小，则所述待处理缺陷对应的奖励越多；向所述当前测试者发放所述待处理缺陷对应的奖励。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷信息包括缺陷属性以及缺陷详情内容，所述通过将所述待处理缺陷的缺陷信息与各个已处理缺陷的缺陷信息进行对比，确定所述待处理缺陷属于新增类别缺陷或重复类别缺陷，包括：将所述待处理缺陷的缺陷属性与各个所述已处理缺陷的缺陷属性进行对比；若所述待处理缺陷的缺陷属性与各个所述已处理缺陷的缺陷属性均不一致，则确定所述待处理缺陷属于新增类别缺陷；若所述待处理缺陷的缺陷属性与任意一个所述已处理缺陷的缺陷属性一致，则确定所述待处理缺陷属于现有类别缺陷；若所述待处理缺陷属于现有类别缺陷，则基于所述待处理缺陷的缺陷详情内容以及各个目标缺陷的缺陷详情内容，计算所述待处理缺陷与各个所述目标缺陷的相似度；其中，所述目标缺陷为缺陷属性与所述待处理缺陷一致的所述已处理缺陷；基于所述待处理缺陷与各个所述目标缺陷的相似度，判断各个所述目标缺陷中是否存在所述待处理缺陷的相同缺陷；其中，与所述待处理缺陷的相似度大于预设阈值的所述目标缺陷为所述待处理缺陷的相同缺陷；若判断出各个所述目标缺陷中不存在所述待处理缺陷的相同缺陷，则确定所述待处理缺陷属于新增类别缺陷；若判断出各个所述目标缺陷中存在所述待处理缺陷的相同缺陷，则确定所述待处理缺陷属于重复类别缺陷。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述待处理缺陷的缺陷详情内容以及各个目标缺陷的缺陷详情内容，计算所述待处理缺陷与各个所述目标缺陷的相似度，包括：分别将所述待处理缺陷的缺陷详情内容以及各个所述目标缺陷的缺陷详情内容进行分词，得到所述待处理缺陷的分词集合以及各个所述目标缺陷的分词集合；
分别针对每个所述目标缺陷，将所述待处理缺陷的分词集合以及所述目标缺陷的分词集合进行合并，并剔除重复的分词，得到所述待处理缺陷与所述目标缺陷的分词并集；分别所述待处理缺陷与所述目标缺陷的分词并集中的各个分词，在所述待处理缺陷的分词集合中出现的频次以及在所述目标缺陷的分词集合中出现的频次，构建所述待处理缺陷的词频向量以及所述目标缺陷的词频向量；利用余弦相似度公式对所述待处理缺陷的词频向量和所述目标缺陷的词频向量进行计算，得到所述待处理缺陷与所述目标缺陷的相似度。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述待处理缺陷的严重程度权重以及对应的重复次数，计算得到所述待处理缺陷对应的奖励，包括：基于所述待处理缺陷对应的重复次数，以及所述待处理缺陷所属缺陷的最终总重复次数，计算得到所述待处理缺陷的缺陷重复性权重；将单位基准奖励、所述待处理缺陷的缺陷重复性权重以及所述待处理缺陷的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘羽，潘莉，
申请(专利权)人：中国建设银行股份有限公司，
类型：发明
国别省市：