温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种固体材料中电子点缺陷的探测方法、探测装置和系统，该探测方法包括：根据荧光获取每个探针点缺陷对应的谱学信息，根据探针点缺陷对应的谱学信息得到探针点缺陷的局域电场信号，根据跳变前后探针点缺陷的局域电场信号，得到探针点缺陷的跳变信号；在发生多...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。