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本发明提供一种半导体器件环境可靠性测试方法和系统，涉及测试技术领域，所述方法包括：将场效应管划分为多个测试批次；将测试组中的场效应管放置于多种测试环境中；将对照组中的场效应管放置于对照环境中；为相同测试批次的场效应管的栅极施加相同的栅极电压...
该专利属于江苏摩派半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏摩派半导体有限公司授权不得商用。

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