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本实用新型公开了一种芯片老化测试装置，包括有芯片老化座，固定在芯片老化座侧壁表面的加湿组件；所述加湿组件中包括有壳体、固定在壳体内腔左侧的水箱、一端浸泡在水箱内部中的湿膜片；以及安装在壳体内腔顶部侧壁上位于湿膜片上方的两个微型风机。本实用新...
该专利属于赫顶（天津）工业技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过赫顶（天津）工业技术有限公司授权不得商用。

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