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本实用新型公开了一种引线框架多维检测装置，属于半导体配件检测技术领域，包括平面检测机构和高度测量机构，所述平面检测机构和所述高度测量机构集成安装在一体化检测支架上；所述平面检测机构包括第一相机，用于检测所述引线框架平面尺寸；所述第一相机垂直...
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