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本申请实施例提供一种电子元器件插接卡子质量检测方法及检测系统，涉及电子元器件检测技术领域。该方法包括获得电子元器件插接卡子的零角度光图像；对所述零角度光图像进行预处理；基于预处理后的零角度光图像上的光斑获取所述电子元器件插接卡子的数量、位置...
该专利属于创新奇智（浙江）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过创新奇智（浙江）科技有限公司授权不得商用。

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