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本发明公开了一种口罩面罩密合度分析仪，涉及密合度分析仪技术领域，包括底座，所述底座上端开设有两个梯形滑槽，所述底座上端通过磁铁连接有对内部仪器进行保护的防护罩，其中，所述底座开设的两个梯形滑槽内均滑动安装有梯形滑块，且每组梯形滑块的数量均为...
该专利属于丛加仪器（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过丛加仪器（上海）有限公司授权不得商用。

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