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用于带电粒子分析器的照射控制装置制造方法及图纸
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下载用于带电粒子分析器的照射控制装置的技术资料
文档序号:39124911
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描述了一种用于分析器布置(100)的照射控制装置(7)。分析器布置被配置为确定与从样品(3)发射的带电粒子相关的至少一个参数。照射控制装置(7)包括用于输入电磁辐射(Ri)的输入部(8),并且被配置为控制样品(3)的照射以诱发从样品(3)发...
该专利属于盛达欧米科有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过盛达欧米科有限公司授权不得商用。
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