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本发明适用于材料检测技术领域，提供了电子材料中α粒子表面发射率确定方法以及装置。其中，所述方法包括：获取待测试电子材料的缺陷数据；根据所述待测试电子材料的缺陷数据以及预设的缺陷数据...
该专利属于深圳市计量质量检测研究院（国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心）所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市计量质量检测研究院（国家高新技术计量站、国家数字电子产品质量监督检验中心）授权不得商用。