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本发明公开了一种红外发射芯片的性能综合测试方法及系统，涉及红外发射芯片测试技术领域，包括：将待测试的红外发射芯片的引脚接入性能测试机电路中，调试性能测试机进入测试环境；性能测试机对红外发射芯片的灵敏度进行检测；性能测试机对红外发射芯片的功耗...
该专利属于深圳市美矽微半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市美矽微半导体有限公司授权不得商用。

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