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本发明公开了一种芯片测试装置及其调试方法以及一种芯片测试方法。芯片测试装置包括芯片测试组件、若干个数字万用表、摄像装置以及控制中心，芯片测试组件用于检测待测芯片；若干个数字万用表的输入端分别与所述测试板的测试端固定连接，以检测对应的测试端的...
该专利属于上海蔚波微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海蔚波微电子科技有限公司授权不得商用。

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