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本实用新型实施例公开了一种芯片检测装置，装置包括接触头、检测模块以及主控芯片；检测模块用于依次向接触头中的每个探针输出高电平信号，并在每个探针通过高电平信号时，采集剩余其他探针的电压值；主控芯片用于接收检测模块采集的电压值，并利用检测模块采...
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