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本发明适用于测试座检测技术领域，提供了一种IC芯片测试座用检测装置，包括底板：两个分别设于所述底板顶部两端用于输送测试的输送机构，设于所述输送机构上方用于对所述测试座辅助支撑的定位机构。该IC芯片测试座用检测装置，通过将测试座展开插入至两个...
该专利属于苏州华益微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华益微电子有限公司授权不得商用。

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