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本申请涉及一种近场探头的校准方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：利用矢量分析仪，测量第一同轴线缆的第一散射参数矩阵和第一输出电压、第二同轴线缆的第二散射参数矩阵和第二输出电压，以及近场探头的第三散射参数矩阵；根据第一散射参数矩阵...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。