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本发明提供了一种半导体功率循环测试系统及测试方法，涉及半导体模块测试技术领域，包括控制终端以及多个独立可拆卸的测试模组；所述控制终端与各个测试模组建立通信，以进行指令和数据传输；每一所述测试模组均包括：负载模块，用于控制功率循环测试过程的负...
该专利属于臻驱科技（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过臻驱科技（上海）有限公司授权不得商用。

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