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本发明公开了一种基于测试设备的异常存储芯片检测方法，属于半导体测试技术领域，具体包括以下步骤：获得同一批次晶圆上的各个芯片的测试结果数据；对测试结果数据进行提取，得到特征数据，将每个芯片的测试数据结合生成每个批次晶圆的特征集，对特征集的进行...
该专利属于悦芯科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过悦芯科技股份有限公司授权不得商用。

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