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一种基于光学剪切的二维光学应变花测量方法，该测量方法首先采用热压印方法在被测物体表面制作矩形光学应变花标记，在测量光路中放置四棱镜，引入光学剪切量，形成具有剪切量的图像，根据数字相关方法计算具有剪切量的图像中光学应变花的４个标记点的位移，根...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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