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本发明公开的一种显示信号的采样方法、设备、装置及显示设备，该方法包括：IC芯片在接收到待采样显示信号之前，先基于接收到的校验信号，生成采样信号，校验信号是由首个IC芯片接收到初始校验信号后，传输到该IC芯片的，初始校验信号由预设数量的目标逻...
该专利属于北京显芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京显芯科技有限公司授权不得商用。

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