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本发明公开了一种NaF掩蔽条件下测试Sb(Ⅲ)的方法，包括以下步骤：S1、配制上机样品；S2、调试仪器并进行Sb(Ⅲ)的测试；本发明还公开将此方法应用于探究包括体积分数为5％的HCl、质量分数为1％的硫脲
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该专利属于中国地质大学（武汉）所有，仅供学习研究参考，未经过中国地质大学（武汉）授权不得商用。

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