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芯片测试探针制造技术
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文档序号:38903483
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本发明公开一种芯片测试探针,包括芯片探针,包括:针管和温变镶嵌芯,内置所述螺旋弹簧的针管位于针套内,所述针头的尾部位于针管内,针头的头部从针管内延伸出,所述针头的尾部具有一直径大于针头的中空宽口管,此中空宽口管由若干个沿周向间隔设置的条形瓣...
该专利属于苏州联讯仪器股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州联讯仪器股份有限公司授权不得商用。
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