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本发明涉及光伏组件用结构技术领域，具体为一种半导体晶片表面的测试装置，包括测试桌、测试台、测试框、第一丝杆滑台、移动板、测试机构、分拣机构和两个滑槽，所述测试框安装在测试台的顶部，所述第一丝杆滑台水平设置在测试桌的顶端，所述移动板安装在第一...
该专利属于无锡安鑫卓越智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡安鑫卓越智能科技有限公司授权不得商用。

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