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本发明涉及一种芯片测试方法和系统，方法包括：提供一基准频率，基于基准频率构建一加权频率差值模型；根据芯片测试的工作温度和工作电压，通过加权频率差值模型计算加权频率差值，并根据加权频率差值划分芯片等级，其中工作温度为实测温度经过温度补偿后得到...
该专利属于胜达克半导体科技（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过胜达克半导体科技（上海）股份有限公司授权不得商用。

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