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本发明涉及一种电路接口测试方法，其中，包括：(1)电路结构进入上电复位状态，并设置预设数量窗口期；(2)电路结构进入第一窗口期，芯片等待接收与预设接口的特性相匹配的功能时序信号；(3)芯片进一步判断是否接收到相关特性的功能时序信号，如果是，...
该专利属于华润微集成电路（无锡）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华润微集成电路（无锡）有限公司授权不得商用。

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