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本发明涉及空间角度精密测量装置，具体涉及一种基于X射线的非通视方位角精密测量装置与方法。解决了现有基于光学方位角度精密测量的装置和方法，需在被测对象表面开设通光口，使被测对象的气动外形和表面气密性被破坏，导致被测对象无法满足要求的技术问题。...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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